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热阻测试仪

产品介绍

该测试设备适用于IGBT、SiC MOSFET、GaN、和Diode，可全面评估功率半导体器件的热特性，帮助功率半导体生产厂家与应用厂家加速其产品的开发速度。

产品功能
自动化K系数标定
瞬态热阻抗测量
结构函数分析
产品特点
采用模块化设计
可自由搭配组件
测试电源每个模组300A/10V
最大可配置3个模组
配备4个独立测试工位
产品规格表