功率半导体直流加速老化测试系统

该测试平台主要用于加速功率半导体器件的老化速度，可将其10-30年的运行寿命缩短至3个月以内，并且在老化过程中，实时全方位电热性能的监测，深度评估被测功率半导体的可靠性与寿命。