功率半导体加速老化测试平台
该测试平台主要用于加速功率半导体器件的老化速度，可将其10-30年的运行寿命缩短至3个月以内，并且在老化过程中，实时全方位电热性能的监测，深度评估被测功宰半导体的可靠性与寿命…
电压钳位探头
该探头主要用于精准在线获取功率半导体器件的健康状态标准参数，可同时监测单个模块、半桥模块、单相全桥模块以及三相全桥模块。基于监测信息，可对功率半导体器件的在线运行状态进行评估，预测其剩余寿命，提升电气设备的可靠性…
热阻测试仪
该软件主要用于功率半导体模块多层结构的热阻抗特性分析，根据功率半导体器件温度测量平台所获得的动态温度信息，精准计算出功率半导体的热阻热容参数，评估其散热性能…
交流老化测试系统
该系统用于功率半导体器件在交流工况下的加速老化测试，支持多种交流波形加载，实时监测器件电热性能变化，评估器件在交流应力下的可靠性与寿命衰减特性…
双极性退化测试设备
该系统专门用于IGBT等功率半导体器件的双极性退化效应测试，通过施加特定电流应力触发退化机制，实时监测器件参数漂移，评估器件长期可靠性…
多尺度直流功率循环设备
该系统支持四通道独立直流功率循环测试，可同时对多组功率半导体器件进行不同工况下的功率循环加载，实时采集温度、电压、电流等关键参数…
